論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件和PXI功能，以幫助芯片商應對他們面臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以*體現(xiàn)出來。"由于其高吞吐量、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中實驗室級別的測量質(zhì)量。相比一代產(chǎn)品，二代產(chǎn)品外形幾乎沒有變化，但功能更加強大；其中Baby-LIN-RM-II可以支持高速CAN和低速CAN；Baby-LIN-MB-II也可以支持CAN總線；式的測試設備HARP-5可同時支持CAN，LIN，并帶有顯示屏，具有數(shù)據(jù)記錄儀的功能。下圖是一個簡單對比：Baby-LIN-II系列產(chǎn)品都配有免費的LINWorks軟件，在PC上支持所有工作流程，可以在WIN )上操作。 
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